—— PROUCTS LIST
—— ARTICLE
-
硅橡膠介電常數(shù)損耗測定儀更新時(shí)間：2024-09-09型號(hào)：GDAT-A廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：921硅橡膠介電常數(shù)損耗測定儀高聚物的交聯(lián)通常能阻礙極性基團(tuán)的取向，因此熱固性高聚物的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗均隨交聯(lián)度的提高而下降。酚醛樹脂就是典型的例子，雖然這種高聚物的極性很強(qiáng)，但只要固化比較，它的介質(zhì)損耗就不高。相反，支化使分子鏈間作用力減弱，分子鏈活動(dòng)能力增強(qiáng)，介電常數(shù)和介質(zhì)損耗均增大。
查看詳細(xì)介紹 -
聚合物1MHZ介電常數(shù)測試儀更新時(shí)間：2024-09-09型號(hào)：GDAT-A廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：844
聚合物1MHZ介電常數(shù)測試儀主電容調(diào)節(jié)范圍：18～220pF 準(zhǔn)確度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接測量范圍的電容測量見后頁使用說明
查看詳細(xì)介紹 -
工頻介電常數(shù)損耗試驗(yàn)儀更新時(shí)間：2024-07-18型號(hào)：BQS-37A廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：1048工頻介電常數(shù)損耗試驗(yàn)儀3.4.1掃描方式列表掃描功能可對最多 10 個(gè)點(diǎn)的測試頻率，測試電平或直流偏置進(jìn)行自動(dòng)掃描測試。- 有兩種列表掃描測試方式：SEQ 方式和 STEP 方式。在 SEQ 方式下，每按[TRIGGER]鍵一次，所有列表掃描測試點(diǎn)將被自動(dòng)測試一遍。在 STEP 方式下，每按[TRIGGER]鍵一次，僅對一個(gè)掃描測試點(diǎn)進(jìn)行一次測試。
查看詳細(xì)介紹 -
1MHz陶瓷介電常數(shù)測試儀更新時(shí)間：2024-07-18型號(hào)：GDAT-S廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：9551MHz陶瓷介電常數(shù)測試儀固體絕緣材料測試頻率20Hz～1MHz的ε和D變化的測試。ε和D測量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005
查看詳細(xì)介紹 -
1Mhz橡膠介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀更新時(shí)間：2024-07-18型號(hào)：GDAT-A廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家瀏覽量：9581Mhz橡膠介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε）
查看詳細(xì)介紹
