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介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀哪個好特點： 1． 優(yōu)化的測試電路設計使殘值更小 2． 高頻信號采用數(shù)碼調(diào)諧器和頻率鎖定技術 3． LED 數(shù)字讀出品質(zhì)因數(shù)，手動/自動量程切換 4． 自動掃描被測件諧振點，標頻單鍵設置和鎖定，大大提高測試速度

BQS-37介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀公式說明 .頻率對介質(zhì)損耗正公式： 本電橋額定的工作頻率f=50Hz，在實際工作頻率偏離額定頻率時可用修正式進行修正： tg=f’·tgδ / f 式中：f 為額定工作頻率（f=50Hz） f’ 為實際工作頻率 tgδ 電橋測得損耗值 tgδ 為被測試品介質(zhì)損耗角正切的實際值 電橋在使用過程中，靈敏度

薄膜塑料介電常數(shù)測試儀在較高的頻率下，只要電介質(zhì)中不出現(xiàn)局部放電，電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)與電場強度無關.

國標GBT1409介質(zhì)損耗測試儀陶瓷材料的損耗 陶瓷材料的介質(zhì)損耗主要來源于電導損耗、松弛質(zhì)點的極化損耗和結(jié)構損耗。此外，表面氣孔吸附水分、油污及灰塵等造成的表面電導也會引起較大的損耗。 在結(jié)構緊密的陶瓷中，介質(zhì)損耗主要來源于玻璃相。為了改善某些陶瓷的工藝性能，往往在配方中引人此易熔物質(zhì)（如黏土），形成玻璃相，這樣就使損耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷隨黏土含量增大，介質(zhì)損耗也增大。

涂層介質(zhì)損耗因數(shù)測試儀計算公式 Cx=R4× Cn / R3 R4[Ω] R3[Ω] Cn[pF] Cx[pF] tgδ=ω·R4·C4 R4[Ω] C4[F] 當R4=10K/π tgδ=C4 當R4=1K/π tgδ=0.1C4