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四探針?lè)阶桦娮杪蕶z測(cè)儀適用于企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具；液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量和系數(shù)補(bǔ)償，并帶有溫度補(bǔ)償功能，自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；采用AD芯片控制，恒流輸出。

四探針半導(dǎo)體電阻率測(cè)量?jī)x參照標(biāo)準(zhǔn)： 1.硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）. 2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》. 3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā? 4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā?

半導(dǎo)電低阻雙電四探針測(cè)試儀測(cè)量范圍:電 阻：1×10-4～2×105 Ω ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω 電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm 方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□

增塑劑電阻測(cè)定儀同時(shí)測(cè)出電阻兩端的電壓V和流過(guò)電阻的電流I，通過(guò)內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計(jì)算，然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過(guò)A/D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值。

半導(dǎo)電四探針電阻測(cè)試儀功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤(pán)輸入；具有零位、滿(mǎn)度自校功能；電壓電流全自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程；測(cè)試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測(cè)試儀特贈(zèng)設(shè)測(cè)試結(jié)果分類(lèi)功能，最大分類(lèi)10類(lèi)。