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絕緣材料高溫表面和體積電阻率測試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢，具備高溫氣氛保護，PC軟件運行及數(shù)據(jù)處理.用于對絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學材料等.

導電四探針電阻檢測儀輔助接地電阻及地電壓引起的測量誤差： 允許輔助接地電阻RC（C1與C2之間）。 0～2Ω，2～20Ω ≤1KΩ。 20～200Ω ≤2KΩ。 RP（P1與P2之間）40KΩ 誤差≤±5%。 允許地電壓（工頻有效值）≤5V 誤差≤±5%。

增塑劑電阻測定儀同時測出電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I，通過內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計算，然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值。

薄膜防靜電體積電阻率測試儀測試屏蔽箱（內(nèi)含國家標準四電極） (注：不同的標準有不同的電極,如果要美國ASTM電極，請訂貨時請說明)。 絕緣板：　≥100TΩ.m (1014Ω.m)

四探針電阻測定儀硅片電阻率測量的國際標準（ASTM F84）.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》. GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.